Всего на сайте:
282 тыс. 988 статей

Главная | Математика

Схема для тестирования любых элементов с двумя входами на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.  Просмотрен 209

  1. Схема для тестирования элемента И-НЕ с четырьмя входами на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  2. Схема для тестирования «монтажного» логического элемента на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  3. Схема для тестирования комбинационного узла на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  4. Переместительный закон.
  5. Распределительный закон
  6. Закон повторения
  7. Законы поглощения
  8. Схема для тестирования комбинационного узла на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  9. Схема для тестирования сумматора на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  10. Схема для тестирования преобразователя кода с семисегментным индикатором на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  11. Схема для тестирования мультиплексора на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
  12. Схема для тестирования демультиплексора на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.

 

 

Входы второго неиспользуемого элемента подключают к одной из шин питания
(на рис. к общему проводу).

Входной сигнал логического элемента (x) задают тумблерами 0 ( ) и 1 ( ).

Состояние выхода логического элемента определяют по индикатору логических уровней.

Переключатель индикатора логических уровней устанавливают в положение
«ТТЛ 5 В».

 


Предыдущая статья:Схема электропитания блока испытания цифровых устройств Следующая статья:Схема для тестирования элемента И-НЕ с четырьмя входами на наборном поле блока испытания цифровых устройств А1.
page speed (0.0127 sec, direct)